Topljivi osigurač BS17DUQ/70/140A/690V 004750726 Zastarelo Ovaj proizvod je zastareo i nema direktnu zamenu, obratite se našoj tehničkoj podršci kako biste pronašli odgovarajuću zamenu. Specifikacije Dodaj u poređenje Ukloni iz poređenja Šifra proizvoda: 004750726 Opis: *BS17DUQ/70/140A/690V Ime razreda: Topljivi osigurač efuse: 1 Grupa proizvoda: Zaštita poluprovodnika Tip: BS Veličina: BS17D Nazivna struja: 140 Nazivni AC napon: 690 Nazivni DC napon: 350 Karakteristika: aR AC Prekidna moć: 100 DC Prekidna moć: 100 Primena: Za zaštitu poluvodičkih uređaja Pd (W): 24,5 Radni Džulov integral (A2s): 11.000 Standardi: IEC 60269-4, BS88 Part 4 Dokumenti 2 Logistički podaci ETIM Clasifikacija v7.0 Karakteristike 1 Slike i dijagrami 3 Softver i upravljački programi 1 Oznake Dokumenti Katalog tehničkih podataka Eplan file Logistički podaci Proizvod Carinska tarifa 85361090 logis_net_width 37 mm logis_net_height 94 mm logis_net_depth 19 mm Osnovno pakovanje Količina 5 EAN 3838895361640 Težina 0.45 kg Transportno pakovanje Količina 10 EAN 3838895416272 Težina 1.07 kg Broj paleta 7480 ETIM Clasifikacija Klasifikacija EC000035 Ime razreda Miniature fuse Rated current 140A ETIM Clasifikacija – Verzija Karakteristike Slike i dijagrami Softver i upravljački programi Softver se nudi takav kakav jeste be1z ikakvih garancija. Autor nije u obavezi da pruža podršku, usluge, ažuriranja ili nadogradnje besplatnog softvera ili upravljačkik programa. Oznake 004750726 Fuse link, *BS17DUQ/70/140A/690V Ultra Quick System BS aR Characteristic aR Characteristic Rated voltage 690V BS17D Fuse links for semi conductor protection ULTRA QUICK Fuse links ULTRA QUICK *BS17DUQ/70/140A Rated current 140A Type BS Size BS17D Product group Semiconductor Protection Characteristics aR Rated AC voltage 690V Rated DC voltage 350V Dimensions screw 70mm Breaking capacity AC 100kA Breaking capacity DC 100kA Power dissipation 24,5W Catalogue Group Semiconductor Protection Standards IEC 60269-4, BS88 Part 4 Operating joule integral 11.000A2s Application For protection of semiconductor devices